本發明公開了微波表面電阻連續頻譜測試裝置,包括固定介質柱和移動介質柱;所述固定介質柱設置于待測超導薄膜上,且移動介質柱連續運動并與固定介質柱產生相對位移,使得移動介質柱和固定介質柱之間電磁場變化。本發明微波表面電阻連續頻譜測試裝置,通過將固定介質柱和移動介質柱進行相對位移,實現了諧振頻率的連續變化從而測得樣品微波表面電阻的連續頻率譜特性,實現準確連續無損的檢測。
聲明:
“微波表面電阻連續頻譜測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)