本發明公開了一種集成LCAS仿真及VCG延時仿真的EOS測試儀,包括:以太網接口,STM-N接口,以太網數據產生和檢測模塊,處理單元,所述EOS測試儀還包括虛級聯組VCG查分延時與檢測模塊和鏈路調節機制LCAS仿真模塊,其中VCG差分延時與檢測模塊,用于提取相同同步數字系列SDH幀中每個成員的復幀指示MFI差值,以得到所有成員的差分延時;LCAS仿真模塊,用于控制虛級聯組VCG鏈路的容量。EOS測試儀可以對每個VC-X通道進行延時控制,因此接收到的VCG成員都是不同的MFI值,因此可以測試VCG的差分延時;通過LCAS仿真模塊可以無損地增加或減少VCG鏈路的容量,從而滿足上層業務對帶寬的需求。
聲明:
“集成LCAS仿真及VCG延時仿真的EOS測試儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)