本實用新型屬于半導體光電子器件封測技術領域,公開了一種用于LED外延片光電參數測試的EL快速測試儀,包括P型接觸探針支架,所述P型接觸探針支架固定有液態金屬探針機構,所述液態金屬探針機構包括液態金屬存儲容器、毛細管探針頭和金屬接觸電極,所述毛細管探針頭可拆卸安裝于液態金屬存儲容器下端,所述毛細管探針頭內部流有液態金屬,所述金屬接觸電極的一端與液態金屬接觸,另一端連接信號處理系統。采用鎵銦錫合金液態金屬探針,使得測試探針與樣品表面軟接觸,不易劃傷樣品表面,達到無損傷表面接觸。并且液態金屬在張力的作用下能夠有效的控制接觸面積穩定性,從而提高測試精度。
聲明:
“用于LED外延片光電參數測試的EL快速測試儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)