本發明公開了用于手性粒子光學檢測和分選的裝置及方法,裝置由激光器、非偏振分光棱鏡、反射鏡、矢量光場生成系統、計算機和高數值孔徑物鏡組成;方法通過計算機控制矢量光場生成系統,將激光器發出的激光裁剪為具有特定空間分布的矢量光場,并利用高數值孔徑物鏡將其聚焦,在物鏡焦場區域生成橫向自旋橫向光針焦場。當手性粒子與橫向自旋橫向光針焦場相互作用時,作用在粒子上的非手性梯度力被光針焦場抑制,且不同手性的粒子將在手性梯度力的作用下被捕獲在光針焦場的不同位置,并以不同的頻率在捕獲位置發生自轉。本發明不僅可以實現對分子手性的探測,而且能夠無損傷地對手性粒子進行分選,在一系列涉及手性光學的領域都有著廣闊的應用前景。
聲明:
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