本發明公開了一種密封面缺陷三維檢測方法,包括:獲取密封面上帶劃痕的圖片;根據帶劃痕的圖片獲取劃痕的長度和初始寬度;根據初始寬度確定掃描路徑;根據掃描路徑規劃掃描軌跡;沿掃描軌跡對劃痕進行掃描以確定劃痕的深度及最終寬度。與現有技術相比,本發明的密封面缺陷三維檢測方法先獲取密封面上所有帶劃痕的圖片,從而基本上杜絕了細微劃痕的漏檢情況;之后根據該圖片獲取劃痕長度及初始寬度,再根據初始寬度確定掃描路徑,繼而根據掃描路徑規劃掃描軌跡,最后沿掃描軌跡對劃痕進行掃描以確定劃痕的深度及最終寬度,從而實現了對密封面缺陷的三維檢測,同時提高了測量精度,且實現了對密封面三維缺陷的尺寸量化檢測。
聲明:
“密封面缺陷三維檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)