本發明實施例提供一種顯示面板的封裝檢測方法及檢測裝置、檢測系統,涉及顯示技術領域,能夠無損的對顯示面板的受損位置進行檢測;該顯示面板為包括封裝薄膜的顯示面板,該封裝檢測方法包括:獲取多個基準顯示面板中每個基準顯示面板的第一太赫茲光譜數據;基準顯示面板中的封裝薄膜未受損;根據多個基準顯示面板中每個基準顯示面板的第一太赫茲光譜數據,建立基準太赫茲光譜數據;獲取待檢測的顯示面板的第二太赫茲光譜數據;將第二太赫茲光譜數據與基準太赫茲光譜數據對比,獲取待檢測的顯示面板的受損的位置。
聲明:
“顯示面板的封裝檢測方法及檢測裝置、檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)