本發明提供了一種電阻器抗輻照能力無損篩選方法及裝置,方法包括:獲取作為隨機子樣的電阻器輻照前的電阻值和1/f噪聲電壓功率譜幅值;獲取作為隨機子樣的電阻器經過輻照后的電阻值;基于輻照前的電阻器的電阻值和經過輻照后的電阻器的電阻值,計算輻照前后的電阻值漂移量;以1/f噪聲電壓功率譜幅值作為信息參數,以電阻值漂移量作為輻照性能參數,建立多元線性回歸方程,并計算線性回歸方程中的系數向量;基于系數向量,建立信息參數和輻照性能參數之間的無損篩選回歸預測方程;利用所述無損篩選回歸預測方程,對同批其他電阻器器件進行篩選。本發明能夠實現在對電阻器無損壞的前提下,進行對元器件準確、高效的抗輻照能力的測試篩選。
聲明:
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