提供了一種用于為布置在物體(12)中的基底(16)上的絕緣涂層(14)確定厚度和熱導率的裝置(10)。該裝置包括用于對物體(12)的表面快速施加多個光脈沖(24)的光源(20),其中該表面包括絕緣涂層(14)。該系統還包括記錄系統(28),該記錄系統(28)被配置成收集表示多個光脈沖在物體(12)中的傳播的數據(36)。該裝置還包括處理器(34),該處理器(34)被耦合到記錄系統(28),并且被配置成接收來自記錄系統(28)的數據(36),以及被配置成確定絕緣涂層(14)的厚度值和熱導率值。
聲明:
“用于無損測定絕緣涂層的方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)