本申請公開了一種B2B連接器無損下針測試裝置,其包括測試定位器件,測試定位器件的頂部制有用于定位被測連接器位置的連接器定位槽,連接器定位槽的槽底貫通開設有若干個豎直向下延伸的、用于定位插設測試針的插針孔;連接器定位槽和插針孔的位置如此設置:當被測連接器被定位放置于所述連接器定位槽中,測試針自下而上貫通插入所述插針孔中并與所述被測連接器相抵觸后,僅保證所述測試針徑向側部與所述被測連接器上的PIN針接觸連接。本申請這種測試裝置,在保證B2B連接器測試準確度的同時,還能夠保證B2B連接器的結構在測試過程中不會被測試針損壞。
聲明:
“B2B連接器無損下針測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)