本發明涉及一種盆栽水稻表型參數全自動無損高通量的測量系統及測量方法,本發明由可編程控制器控制,輸送線輸送盆栽水稻,采用X射線成像系統拍攝水稻斷層圖像,三維可見光成像系統拍攝可見光圖像,由工作站對所得圖像進行處理,得到水稻各項參數。本發明首次提出并實現X射線斷層掃描成像測定水稻分蘗數的新方法,將提取各個參數集成到一套系統中,成功建立第一套全自動、高通量、多參數和高精度的盆栽水稻表型參數自動提取系統。
聲明:
“盆栽水稻表型參數的全自動無損測量系統及測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)