本發明公開了一種基于高光譜的葉片無損檢測裝置,包括光源、物鏡或者透鏡、位移臺、濾波片,聚焦透鏡、成像光譜儀,待測樣品放置在所述的位移臺上,光源發出的光依次通過物鏡或者透鏡、位移臺、待測樣品,待測樣品輻射的光通過濾波片,聚焦透鏡進入成像光譜儀中。本發明利用光源照明樣品,利用位移平臺實現對樣品的掃描,成像光譜儀采集樣品輻射的光譜信號,可以快速地得到樣品的光譜和空間位置信息。本發明采用了主動照明的方式,系統的信噪比較高,可以用來實現物體的定量檢測。
聲明:
“基于高光譜的葉片無損檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)