本發明公開的一種用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭,包括一個以上的窄光譜光源、光源架、光電探測器、光電探測器保護筒,以及控制電路;其中光電探測器保護筒位于光源架的中心軸上且光電探測器保護筒的頂端與光源架固定連接,光電探測器保護筒的底端安裝有光電探測器,且光電探測器的感光面朝下;一個以上的窄光譜光源以光源架的中心軸為中心,均勻地朝下設置在光源架上;控制電路控制一個以上的窄光譜光源依次點亮。本發明對比現有的透射、漫反射檢測方式,這種漫透射式探頭省去了樣品池,不需要取樣、裝樣等操作,更加方便。
聲明:
“用于固體顆粒物光譜無損檢測的LED漫透射式探頭” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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