本發明提供了一種基于渦流反射與透射的無損檢測方法,本方法利用常規渦流的反射作用和遠場渦流的透射作用對鐵磁性試件的表面缺陷和深層缺陷同時進行檢測,用于識別表面與內部缺陷且能定量分析,有效解決了單純遠場渦流檢測方法不能有效區分鐵磁性試件內外缺陷,而常規渦流不能解決深層缺陷檢測問題。檢測過程中,當渦流傳感器沿試件表面移動時,激勵線圈對試件進行飽和磁化,同軸檢測線圈用于檢測試件表面缺陷,激勵線圈外的磁屏蔽罩將直接耦合信號屏蔽,遠場渦流檢測線圈所拾取的為表面和深層缺陷信號。后續的信號進入鎖相放大器模塊、信號調理模塊,由數據采集卡采集處理后的信號在PC機顯示,實現鐵磁性試件內外缺陷的分類識別與定量分析。
聲明:
“基于渦流反射與透射的無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)