本發明公開了一種基于高光譜成像的蘋果表面損傷快速無損檢測方法,具體涉及水果品質無損檢測技術領域。該方法是首先利用高光譜成像光譜儀采集損傷蘋果的光譜圖像,然后對光譜圖像進行校正,再利用ENVI獲取圖像上完好與損傷區域的平均光譜曲線,分析光譜特性,再利用多元散射校正法對光譜數據進行預處理,其次,利用二次連續投影算法分析光譜數據,篩選特征波段,并對特征波段圖像進行掩膜處理,去除背景干擾,再進行主成分分析確定完好與損傷區域差異明顯的有效檢測圖像,最后采用固定閾值法分割出損傷區域,分割圖像中依然存在因光照影響而誤分的小面積區域,再利用圖像的膨脹、腐蝕和刪除小面積區域操作來實現損傷區域的精確分割。
聲明:
“基于高光譜成像的蘋果表面損傷快速無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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