本實用新型公開了一種半導體無損檢測設備,包括工作臺,所述工作臺的底部固定安裝有支撐座,所述工作臺的頂部設置有固定機構,所述工作臺的頂部開設有滑道,所述滑道上滑動安裝有滑塊,所述滑塊的頂部固定安裝有弧形套筒,所述弧形套筒的內部固定安裝有弧形滑桿。該一種半導體無損檢測設備,本實用通過工作臺、支撐座、滑塊、弧形滑桿、弧形套筒、活動塊、檢測頭、固定機構、圓形齒條、滑道、弧形槽、弧形齒條、第一電機、第一齒輪、第二齒輪和第二電機的配合使用,可使檢測頭在任意角度上,達到一個三百六十度的調整效果,方便了檢測頭從各個角度檢測半導體的封裝情況。
聲明:
“半導體無損檢測設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)