本發明公開一種基于太赫茲渦旋電磁波無損檢測方法,可實現在雷達與目標間的橫向相對運動很小情況下突破傳統實孔徑成像分辨率,在一定程度上改善雷達的角分辨能力,解決目前實孔徑雷達裝備分辨率不高的問題。其實現步驟是:1.選定太赫茲頻段作為無損檢測技術的頻段。2.太赫茲微波信號產生。3.確定渦旋電磁波發射模態以及天線個數。4.確定環形陣列構型。5.計算天線不同模態調制激勵相位,產生渦旋電磁波。6.利用太赫茲渦旋電磁波對被檢測物體進行照射。7.接收被檢測物體回波信號。8.根據檢測需求進行數據的反演及成像。
聲明:
“基于太赫茲渦旋電磁波無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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