本發明涉及一種陶瓷基復合材料的太赫茲無損檢測方法可包括下列步驟:S1、建立穩定的太赫茲無損檢測成像測試系統;S2、應用步驟S1建立的太赫茲無損檢測成像測試系統對由陶瓷基復合材料制成的試樣進行太赫茲無損檢測成像測試;S3、對步驟S2得到的試樣太赫茲圖像進行后期處理,以識別出試樣的缺陷。本發明通過對成像模式的調節和后期的太赫茲圖像處理,可以有效地對陶瓷基復合材料內部及表面不同深度和寬度的缺陷進行無損檢測。
聲明:
“陶瓷基復合材料的太赫茲無損檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)