本發明公開一種基于超聲無損檢測的缺陷定位定量檢測方法,包括以下步驟:在待測試塊進行直線B掃,獲取包括n個A掃信號的B掃信號;將無缺陷參考信號和B掃信號歸一化處理,獲得缺陷回波信號;從缺陷回波信號中分別提取每個A掃信號中的缺陷縱波回波時刻;以第一個掃查位置為原點,掃查方向為x正向,待測試塊內部垂直于待測試塊表面方向為y正向,建立坐標系;根據掃查點坐標、缺陷縱波回波時刻以及縱波波速,得到缺陷位置與尺寸。本發明的結果可以直接輸出缺陷的位置和尺寸,在坐標系中繪制出缺陷形貌,輸出結果直觀。本發明在直線B掃的數據基礎之上,即可獲取缺陷尺寸,相較通過C掃檢測缺陷的方式,檢測效率有明顯的提升。
聲明:
“基于超聲無損檢測的缺陷定位定量檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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