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基于二維X射線檢測技術的超大晶粒尺寸的無損檢測方法

1217   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:57:41
本發明屬于超大晶粒尺寸測量技術領域,具體涉及基于二維X射線檢測技術的超大晶粒尺寸的無損檢測方法。所述方法以二維X射線探測器技術為基礎,針對超大晶粒材料進行衍射,對得到的衍射圖像進行分析處理后得到衍射數據,再根據所述衍射數據繪制得到所述超大晶粒材料的晶粒圖。本發明的檢測方法區別于其他晶粒尺寸的計算,本發明是直接對樣品的X射線衍射圖像信息進行分析,得到的是材料一定精度下的真實晶界位置,區別于傳統檢測得到的平均晶粒尺寸,同時區別于謝樂公式僅適用于微米級以下晶粒尺寸的檢測。
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