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基于太赫茲時域譜的無損檢測方法及檢測系統

785   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 08:57:41
本發明揭示了一種基于太赫茲時域譜的無損檢測方法及檢測系統,所述檢測系統包括:太赫茲反射模塊,用于提供太赫茲光束;傳動模塊,用于承載并移動待測產品;時域光譜系統,用于探測待測產品上反射的太赫茲脈沖信號的電場強度;數據處理模塊,用于處理時域光譜系統探測的信息,并判斷待測產品是否合格。本發明能夠快速、高效、準確地對柔性打印電子產品進行無損檢測,提高柔性打印電子產品的質量,適用于在線質量控制。
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“基于太赫茲時域譜的無損檢測方法及檢測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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