本發明公開了一種用于放射性樣品直接中子照相無損檢測的檢測裝置,包括:中子源、樣品臺、中子光路傳輸系統和中子探測系統。所述中子源、所述樣品臺、所述中子光路傳輸系統和所述中子探測系統沿著第一方向依次排布設置。通過在樣品臺和中子探測系統之間設置中子光路傳輸系統,并可根據檢測樣品的性質等來設置中子光路傳輸系統的長度,從而拉長了檢測樣品和中子探測系統之間的距離,可以極大地降低檢測樣品的放射性對中子成像探測系統的影響,幾乎不會影響中子探測系統的檢測成像。如此,本發明的用于放射性樣品直接中子照相無損檢測的檢測裝置,可以利用直接中子成像方法針對放射性樣品進行中子照相無損檢測。
聲明:
“用于放射性樣品直接中子照相無損檢測的檢測裝置及檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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