絕緣子試片沿面閃絡(luò )實(shí)驗方法

本發(fā)明公開(kāi)了一種絕緣子試片沿面閃絡(luò )實(shí)驗方法，試片包括對照試片和實(shí)驗試片，試片的結構相同，實(shí)驗試片的數量為兩個(gè)以上，實(shí)驗方法的具體步驟為：步驟a：將實(shí)驗試片分別浸沒(méi)于各自的化學(xué)清洗劑中，各個(gè)實(shí)驗試片的浸沒(méi)時(shí)間逐漸增加；步驟b：配制人工污穢并利用人工污穢對試片進(jìn)行涂污，涂污后，各個(gè)試片的鹽密相等，各個(gè)試片的灰密相等；步驟c：利用測試裝置得到并記錄各個(gè)試片的閃絡(luò )電壓和試片發(fā)生閃絡(luò )時(shí)的泄漏電流。和現有技術(shù)相比，本發(fā)明提供的絕緣子試片沿面閃絡(luò )實(shí)驗方法可以簡(jiǎn)化操作且實(shí)驗精度較高。