本發明公開了一種絕緣子試片沿面閃絡實驗方法,試片包括對照試片和實驗試片,試片的結構相同,實驗試片的數量為兩個以上,實驗方法的具體步驟為:步驟a:將實驗試片分別浸沒于各自的化學清洗劑中,各個實驗試片的浸沒時間逐漸增加;步驟b:配制人工污穢并利用人工污穢對試片進行涂污,涂污后,各個試片的鹽密相等,各個試片的灰密相等;步驟c:利用測試裝置得到并記錄各個試片的閃絡電壓和試片發生閃絡時的泄漏電流。和現有技術相比,本發明提供的絕緣子試片沿面閃絡實驗方法可以簡化操作且實驗精度較高。
聲明:
“絕緣子試片沿面閃絡實驗方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)