一種中子顯微成像裝置,包括由中子源發射的中子束,經過長筒狀的準直器準直,再經過單色器變成單色中子束后,通過狹縫由波帶片將其中子束聚焦在置放在樣品臺上的待測樣品上,待測樣品產生的信號經正比計數器變成電流信號,輸入計算機進行重構處理。與在先技術相比,具有分辨率高、能夠測量微細結構,可以廣泛應用于工業、農業、生物醫學、物理、地球化學和宇宙化學、考古和海洋學等方面的微觀結構的觀察測量。
聲明:
“中子顯微成像裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)