本發明涉及一種基于分子層面的巖石微觀結構和性質的研究方法,包括以下步驟:先通過X射線衍射試驗獲得巖石的主要礦物成分,從而獲得巖石主要礦物成分的晶體結構;然后計算主要礦物晶體的化學鍵參數并對計算結果進行分析和驗證,計算礦物晶體的彈性參數并對計算結果進行分析和驗證;再根據礦物晶體化學鍵和彈性參數進行相關性分析。本發明提供的研究方法從分子層面研究巖石的微觀特性,為揭示巖石宏觀物理力學性質的微觀本質機理提供理論依據。研究結果不僅為巖石工程、邊坡加固工程提供理論支撐,同時對石質文物保護具有重要意義。
聲明:
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