本發明公開了一種原子力顯微鏡低溫觀測系統,包括減震臺、置于減震臺上的底座、原子力顯微鏡專用冷臺、原子力顯微鏡、原子力顯微鏡控制器和氣密箱,所述原子力顯微鏡專用冷臺固設在底座上,所述原子力顯微鏡和原子力顯微鏡控制器電連接,所述原子力顯微鏡專用冷臺、原子力顯微鏡和原子力顯微鏡控制器被封閉在氣密箱內。通過設置原子力顯微鏡專用冷臺,對至于冷臺上的樣品進行冷卻,從而達到了低溫條件下,對樣品微納米級別的表面形態及物理化學性質進行觀察的目的。
聲明:
“原子力顯微鏡低溫觀測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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