本發明公開了一種用于FTIR光譜儀探測痕量物質所在區域的系統及方法,該系統包括望遠鏡、望遠物鏡、望遠目鏡、分束鏡、成像鏡組、探測器、望遠鏡出射光瞳、FTIR光譜儀、可視化相機。望遠鏡由望遠物鏡和望遠目鏡組成,兩個通道觀測視場大小一致,外通道利用0.9?1.7μm波段對望遠鏡觀測到的區域單獨成像,內通道利用7?14μm波段進行有毒有害氣體及化學戰劑探測。采用分波段的方法,外通道不會影響內通道的能量利用率,有效保證了痕量物質被動遙測的檢出限,外通道成像在探測器上,可以準確定位望遠鏡探測到的區域,并匹配該區域與可視化相機全畫幅照片上的對應位置,達到準確定位痕量物質的目的,能夠有效釋放光學結構的加工精度和裝調難度,有利于實現工程化生產。
聲明:
“用于FTIR光譜儀探測痕量物質所在區域的系統及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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