能譜分析設備
參數
可靠的AutoID用于元素識別;準確的定量-所有計數率;峰值偏移和分辨率變化穩定保證在1,000到100,000 cps之間;以非常高的計數率進(jìn)行全面的軟件校正,包括堆積校正;集成的分析硬件鏈,可以實(shí)現快速、可靠的分析性能
適用范圍
X射線(xiàn)能譜分析,簡(jiǎn)寫(xiě)EDS,通常通過(guò)配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用,是用來(lái)對材料微區成分元素種類(lèi)與含量進(jìn)行分析:利用電子束與物質(zhì)作用時(shí)產(chǎn)生的特征X射線(xiàn),來(lái)提供樣品化學(xué)組成方面的信息,可定性、半定量檢測大部分元素(Be4-PU94),可進(jìn)行表面污染物的分析。
適用標準
GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析