一種用于測量薄膜材料時溫等效性的裝置。通過紅外光譜儀進行光譜分析的薄膜類化學物質,需要研究各種聚合物在溫度逐漸升高時同時受到拉伸力作用的過程中的微觀結構變化的情況,現有的紅外光譜儀未配備這種測量裝置。一種用于測量薄膜材料時溫等效性的裝置。其組成包括:支撐外框(1),所述的支撐外框(1)外形尺寸是與紅外光譜儀樣品倉的可用空間相對應,所述的支撐外框(1)與左試樣夾具(3)、右試樣夾具(4)固定,所述的左試樣夾具(3)和右試樣夾具(4)與被測薄膜試樣(5)固定,所述的被測薄膜試樣(5)因穿過加熱筒(6)內部而被加熱到所需要的溫度,所述的加熱筒(6)與溫度傳感器裝置(2)連接,所述的被測材料加熱部分(5)與所述的加熱筒裝置(2)內滑動。本實用新型用于材料科學。
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我是此專利(論文)的發明人(作者)