本發明涉化學分析技術領域,具體為一種熒光探針法測定表面活性物質臨界膠束濃度的方法。本發明方法采用n?B18H22為熒光探針物質,發現陰離子表面活性劑SDS能增強n?B18H22的熒光。在最佳條件下,熒光強度與SDS的濃度分別在0?8.2×10?3mol/L及8.2×10?3mo/L?3.27×10?2mol/L范圍內分段成良好的線性關系,曲線的拐點對應的表面活性劑濃度即為其臨界膠束濃度(CMC),據此,建立了本發明的測定CMC的簡單熒光方法。結果表明由該法測定的CMC與已報道值符合,說明方法的可行性與準確性。
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