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用于測量表面偏聚揮發量的試樣架及其使用方法

767   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 07:24:12
一種用于測量表面偏聚揮發量的試樣架及其使用方法。利用感應線圈和熱敏元件相結合的方式進行原位加熱和溫度控制,采用高純鉑金片收集揮發溶質或雜質,利用低溫介質通入夾持裝置進行冷卻從而有效冷卻鉑金片并冷凝揮發出的溶質或雜質,借助于分析室內的旋轉臺使鉑金片處于測試位置,可直接測得揮發元素的種類、濃度及先后順序。本發明的試樣架可實現原位加熱和溫度準確控制;可直接利用設備自身的液氮冷卻系統或通入其他低溫介質;采用的鉑金片自身物理和化學性質穩定,借助于設備自帶的氬離子清潔功能,可實現鉑金片的反復利用。本發明試樣架,可用作精度高、超高真空環境、測量室空間有限的先進儀器設備的測量附件,具有良好的應用前景。
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