本發明涉及發光材料非線性光學性質的測量方法。按照國際專利分類表(IPC)劃分屬于物理部,儀器分部,測量;測試類,借助于測定材料的化學或物理性質來測試或分析材料組中的便于進行光學測試的裝置或儀器領域。本發明主要針對現有Z掃描技術無法測量發光材料非線性光學性質的不足,通過在測試裝置中引入光學濾波技術來消除發光材料的熒光發射對Z掃描測試產生的影響。提出一種改進的可以針對發光材料同時進行非線性光學吸收效應及非線性折射效應測試的方法。
聲明:
“測量發光材料非線性光學性質的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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