本發明專利公開了一種基于LA?ICP?MS法的環境中多種目標元素同步檢測方法,采用化學沉積法將AgI顆粒和氫氧化鋯等活性吸附材料富集在Chelex凝膠固定膜上,活性吸附材料具有更高的粒徑均度和細度,檢測分辨率和檢測精度更高;并采用高分辨率凝膠膜灰度掃描成像法(CID)與激光剝蝕等離子質譜(LA?ICP?MS)法實現負二價硫和16種陰陽離子的快速同步檢測分析。
聲明:
“基于LA-ICP-MS法的環境中多種目標元素同步檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)