本發明公開了一種比色檢測硫離子及濃度的方法及其檢測試紙的制備。本發明選用發射波長為520~540nm的CdTe量子點,僅使用一種的量子點就實現了比色檢測的目標,利用明膠將量子點固定在玻璃纖維試紙上,成功制備了硫離子檢測試紙。相比于其他方法,使用本方法檢測硫離子簡單,快速,成本低,可視化效果好,在分析化學、環境檢測領域有著重要的應用前景。
聲明:
“比色檢測硫離子及濃度的方法及其檢測試紙的制備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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