本發明提供一種針尖增強暗場顯微鏡、電化學測試裝置和調平系統。本發明的針尖增強暗場顯微鏡的特征在于,所述針尖增強暗場顯微鏡使用光纖探針,所述光纖探針的針尖處修飾有金屬納米顆粒,而且入射光在修飾有金屬納米顆粒的光纖探針內部傳輸,針尖和樣品間的距離采用光強控制模式,是一種利用了探針針尖處納米金屬顆粒與金屬基底材料近場耦合作用的局域表面等離激元共振暗場耦合裝置。該顯微鏡可用于研究基底表面的雙電層結構、吸/脫附行為及多相催化等基礎表界面化學問題。另外,基于LSPR距離敏感性原理,針尖增強暗場顯微鏡可應用于三探針水平傳感器對納米加工平臺進行自適應調平。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)