化驗(100)可以利用具有可以包括反應容器室(610)的底盤(405)的發光計(400)進行。發光計(400)還可以包括光通道(640),該光通道(640)與反應容器室(610)相交。發光計(400)還可以包括蓋(415),當處于閉合配置時,蓋(415)防止由外部光源發射的光進入反應容器室(610)并且進入光通道(640)。當處于打開配置時,蓋(415)可以提供對反應容器室(610)的訪問。發光計(400)還可以包括:光學地耦接至光通道(640)的一個端部的校準光源(460)和光學地耦接至光通道(640)的另一端部的光檢測器(630)。光檢測器(630)可以包括用于接收來自光通道(640)的光的感測元件。
聲明:
“用于化學發光測量中的模擬光測量和光子計數的系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)