本發明涉及一種絕緣材料對電接觸性能影響的可標準化的測試方法及裝置,在工業電壓下,通過設置標準負載值對電觸頭加電,通過MCU控制電觸頭接觸頻率、接觸電阻的測量頻率,通過四端子法測量電觸頭的接觸電阻,通過放大濾波板去除噪聲,得到接觸電阻值,在MCU中調用故障檢測算法,據此判斷絕緣材料對電觸頭的電氣性能影響。本發明通過在工業電壓和標準負載下,通過電觸頭接觸電阻的阻值變化來判斷絕緣材料對電觸頭電氣性能的影響,各影響因素均可標準化,以實現絕緣材料的選擇。本發明基本按照實際工作環境來作為檢測條件,負載標準化,檢測結果可重復,可靠性強。
聲明:
“絕緣材料對電接觸性能影響的可標準化的測試方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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