本實用新型提供一種集成電路的封裝檢測裝置,包括底座、滑軌和移動板,底座內側設有滑軌,且滑軌與底座活動連接,滑軌上端設有移動板,且移動板與滑軌活動連接,底座右側設有檢測箱,且檢測箱與底座活動連接,檢測箱左下端設有水箱,且水箱與檢測箱固定連接,水箱上端設有注水口,且注水口與水箱固定連接,檢測箱內側左右上端分別設有出水管道。該種集成電路的封裝檢測裝置通過結構的改進,使本裝置在實際使用時,通過檢測儀對集成電路的封裝密封性能檢測,加快了對集成電路檢測的速度,使本裝置在實際使用時,通過鏡片和針孔探頭對集成電路外表是否出現裂痕進行檢測,避免因人工檢測不到位,使不合格的集成電路流出市場。
聲明:
“一種集成電路的封裝檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)