本發明涉及鈦白粉應用性能檢測技術,解決了現有基于SEM的鈦白粉粒子的大小分布統計方法的統計結果準確性和科學性差的問題。技術方案概括為:基于SEM的鈦白粉粒子的大小分布統計方法,包括通過掃描電子顯微鏡拍攝鈦白粉粒子樣本的照片;從照片中測量出預設個數的鈦白粉粒子的長徑;根據從照片中測量出的所有鈦白粉粒子的長徑,計算出鈦白粉粒子的平均長徑;根據計算出的鈦白粉粒子的平均長徑以及預設的鈦白粉粒子的平均長徑范圍所對應的鈦白粉粒子大小分布統計標準,統計該鈦白粉粒子樣本的鈦白粉粒子大小分布。有益效果是:本發明對鈦白粉粒子樣本中的統計基數和統計標準進行了量化,最大限度的避免人為誤差,提高了統計結果的準確性和科學性。
聲明:
“基于SEM的鈦白粉粒子的大小分布統計方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)