本發明提供了一種集成電路性能檢測裝置,包括電控箱,設置在電控箱上部的測試平臺,設置在測試平臺上部右側一端的進料槽,在進料槽左側末端設置有翻轉機構,在翻轉機構后端設置有上下料機構,在翻轉機構的左側末端設置有測試定位機構,測試定位機構后端設置測試插頭機構,測試插頭機構的左側末端設置有分揀機構,在分揀機構的左側一端設置有CCD相機檢測機構,CCD相機檢測機構左側設置有出料槽。本發明提供了一種測試裝置,該測試裝置從上料和下料均采用機械化自動檢測,不需要人工進行輔助,檢測效率高,可以達到工業生產的需要。
聲明:
“集成電路性能檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)