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集成電路性能檢測裝置

1127   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
2023-03-19 06:25:06
本發明提供了一種集成電路性能檢測裝置,包括電控箱,設置在電控箱上部的測試平臺,設置在測試平臺上部右側一端的進料槽,在進料槽左側末端設置有翻轉機構,在翻轉機構后端設置有上下料機構,在翻轉機構的左側末端設置有測試定位機構,測試定位機構后端設置測試插頭機構,測試插頭機構的左側末端設置有分揀機構,在分揀機構的左側一端設置有CCD相機檢測機構,CCD相機檢測機構左側設置有出料槽。本發明提供了一種測試裝置,該測試裝置從上料和下料均采用機械化自動檢測,不需要人工進行輔助,檢測效率高,可以達到工業生產的需要。
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