本發明公開了一種IGBT模塊性能檢測裝置及方法,包括:電流發生電路,用于提供強電流流過待測IGBT模塊的基極和射極;控制板,用于控制整個變流模塊的智能化工作并發出脈沖信號;控制板,用于控制整個變流模塊的智能化工作并發出脈沖信號;驅動板,用于將控制板提供的脈沖信號進行放大,使之成為IGBT模塊的門極驅動脈沖。更改電路參數并不斷測試,最終確定待測IGBT模塊的最佳門極電阻及最優死區時間。
聲明:
“一種IGBT模塊性能檢測裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)