本發明實施例提供的一種孔隙結構獲取方法及裝置,屬于地質勘探及地球物理技術領域。所述方法包括:將巖石樣品標準化。將標準化的巖石樣品放入CT掃描儀中進行X射線掃描,獲得第一圖像數據。根據所述第一圖像數據,獲得所述第一圖像數據的目標區域。根據所述目標區域,在所述標準化的巖石樣品中提取出目標樣品。將所述目標樣品放入聚焦離子束?場發射掃描電鏡系統中進行成像掃描,獲得第二圖像數據。根據所述第二圖像數據,獲得孔隙結構。該方法可對巖石樣品的孔隙結構,并對指定區域或不清晰區域的孔隙結構進行獲取和表征。實現了巖石孔隙結構有針對性的系統化獲取和表征,達到準確觀察和研究巖石樣品內部的孔隙結構及孔隙之間的依存關系。
聲明:
“孔隙結構獲取方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)