本發明公開了一種不同深度地質各向異性的環形探測方法,該方法具體包括:觀測點的設計:在一個環形圓周上設置多個電極或電極對;在同一時刻對各點電位進行測試,通過探測不同深度地電的各向異性來快速判斷不同深度地質的各向異性,該方法可用于探測同一測點上不同深度的地質構造、巖(礦)石電性的各向異性的特征進而獲得地質結構的各向異性特征;探測深度可從幾米到數千米;同時克服了探測時天然電場隨時間變化的影響,實現了探測結果之間的精細對比,提高了探測質量和精度。
聲明:
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