本實用新型涉及一種手持式X射線熒光分析儀,包括激發光源裝置、信號探測裝置、信號處理裝置、濾光片準直器控制系統、攝像頭、GPS定位模塊、ARM嵌入式系統,激發光源裝置中設置有X射線發生器和高壓發生器,信號探測裝置中設置有探測器,X射線發生器前設置有濾光片準直器控制系統,信號探測裝置與信號處理裝置連接,信號探測裝置位于X射線發生器激發射線的最佳反射角的位置上,信號處理裝置上連接有ARM嵌入式系統,ARM嵌入式系統上配備衛星GPS定位模塊,ARM嵌入式系統上連接有數碼控制器。本實用新型對金屬合金、ROHS有害元素、地礦樣品、環境樣品、金屬鍍層厚度等進行現場快速測定,無需進行專門制樣,可以直接測量。
聲明:
“手持式X射線熒光分析儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)