本發明涉及一種用于電磁輻射的探測器,其包括:第一電極層,其包括至少一個第一電極像素和第二電極像素;第二電極;和包含至少一種第一鈣鈦礦的第一層,所述第一層位于第一電極層的第一電極像素和第二電極之間;和包含至少一種與第一鈣鈦礦不同的第二鈣鈦礦的第二層,所述第二層位于第一電極層的第二電極像素與第二電極之間;一種用于電磁輻射的探測器,其包括:第一電極層,所述第一電極層包括至少一個第一電極像素和第二電極像素;第二電極;和包含至少一種第一鈣鈦礦的第一層,所述第一層位于第一電極層的第一電極像素與第二電極之間,并且位于第一電極層的第二電極像素與第二電極之間;以及涉及一種用于制造探測器的方法。
聲明:
“用于電磁輻射的探測器和用于其的制造方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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