本發明公布了一種利用X射線熒光光譜分析地質中痕量元素的方法,屬于化學分析技術領域。通過利用熔融法將地質樣品和標準品制備成玻璃片,然后利用標準品制定校準曲線,最后利用X-熒光光譜儀分析樣品中Sn、Cs、Pr、Sm、Tb、Dy、Ho、Tm、Lu、Se、Ge的含量。該方法具有制樣簡單、操作方便、測量結果準確等優點。
聲明:
“利用X-熒光光譜分析地質樣品中痕量元素的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)