本發明提出了一種NOR閃存結構,在字線上設有多個斷點形成字線段,字線段之間相互隔離開每個字線段均通過通孔連線與金屬連線相連,在進行測試時,金屬連線提供相應的電壓,若金屬連線出現斷線缺陷,斷點以后的字線將得不到供壓,無論在高頻還是低頻下會導致操作失效,無需進行高頻測試也能確保金屬連線的斷線缺陷測試階段全部被分揀出來,從而能夠及時發現,提高分揀精度,且無需額外設備,降低分揀成本。
聲明:
“NOR閃存結構” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)