本申請提供一種電磁繼電器壽命評估方法,該方法包括:根據觸點電流和觸點電壓計算得到待測繼電器的觸點接觸電阻的阻值;確定待測繼電器失效并記錄待測繼電器的失效數據;根據最優擬合原則和待測繼電器的失效數據,分別預估低溫組和高溫組的壽命分布曲線;選取80%的可靠度,基于壽命分布曲線獲取低溫組的中位壽命和高溫組的中位壽命;根據低溫組的中位壽命、低溫組的溫度、高溫組的中位壽命、高溫組的溫度代入阿倫尼烏斯模型,求解阿倫尼烏斯模型的未知參數;將電磁繼電器的使用環境溫度代入已求解的阿倫尼烏斯模型,計算得到待測繼電器的壽命評估結果等步驟。本申請能夠對電磁繼電器的壽命進行評估,并提高評估結果準確性。
聲明:
“電磁繼電器壽命評估方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)