本發明涉及一種MEMS可靠性評估方法,上述MEMS可靠性評估方法,包括如下步驟:獲取MEMS的懸臂梁失效率、芯片失效率以及封裝失效率;對MEMS內的元器件進行測量,獲取所述MEMS的振動系數、溫度系數、溫度幅值系數、循環率系數;根據所述懸臂梁失效率、芯片失效率、封裝失效率、振動系數、溫度系數、溫度幅值系數、循環率系數代入設定的評估模型獲取MEMS的可靠性。本發明提供的MEMS可靠性評估方法,通過獲取MEMS的懸臂梁失效率、芯片失效率以及封裝失效率;并對MEMS內的元器件進行測量,獲取所述MEMS的振動系數、溫度系數、溫度幅值系數、循環率系數,進一步評估MEMS的可靠性,使MEMS可靠性的評估無需經過通過大量試驗,可以有效提高評估的效率。
聲明:
“MEMS可靠性評估方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)