本發明提供了一種平面透射電鏡樣品的制備方法,包括:制備SELA加工所需的第一樣品,所述第一樣品上設有目標區域;使用SELA對所述第一樣品進行裂片,形成包括所述目標區域的第二樣品;將所述第二樣品切割和減薄形成TEM樣品。本發明的技術方案成本較低,簡便易行,大大提高了制備平面TEM樣品的速度和準確性,對失效分析工作有極大的幫助。
聲明:
“平面透射電鏡樣品的制備方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)