本發明涉及基于二維信息熵金屬板帶表面缺陷提取方法,首先,對采集來的源圖像進行高斯平滑;然后,對平滑后的圖像針對缺陷目標進行空間域的增強;再用自適應熵的方法對前面處理后的圖像進行缺陷目標分割;接著,形態學中的方法對分割后的二值圖像法進行閉運算,改善其連通性得到最終的缺陷圖像;缺陷定位精確、效率高且占用資源少,為后續檢測技術的精度提供了保證。本發明的方法簡單穩定可靠,有效解決了傳統基于灰度異常方法的板帶表面質量檢測系統在遇到大量良性缺陷及板型干擾時出現提取失效、易造成系統數據總線出現癱瘓等問題,有效目標提取率得到較大的增強。
聲明:
“基于二維信息熵金屬板帶表面缺陷提取方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)